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簡(jiǎn)要描述:Baker DX靜態(tài)電機(jī)分析儀能對(duì)電機(jī)的完整的絕緣系統(tǒng)進(jìn)行綜合的測(cè)試和分析,能夠探測(cè)工業(yè)電機(jī)的每一種普遍問(wèn)題。在自由繞線式電機(jī)和成型線圈電機(jī)中,Baker DX能夠甄別不正確的匝數(shù)、線徑或者漆包線材料。它也能檢測(cè)開(kāi)路的、顛倒的或者不平衡的線圈。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
極有價(jià)值的多功能性
Baker DX系列儀器提供了豐富的配置選項(xiàng),能夠根據(jù)客戶的實(shí)際需求來(lái)訂購(gòu)。這些配置選項(xiàng)包含繞組絕緣測(cè)試、對(duì)地絕緣測(cè)試、低壓繞組電阻和電感測(cè)試、測(cè)試電壓和電機(jī)引出線根數(shù)。另外還有極化指數(shù)測(cè)試、匝間浪涌測(cè)試、低阻抗線圈測(cè)試和結(jié)合高壓增壓箱-PPX一起使用的眾多選項(xiàng)。
Baker DX 特性4 - 40 kV輸出電壓范圍,能夠?qū)﹄姍C(jī)或者線圈(從分馬力電機(jī)到兆級(jí)功率發(fā)電機(jī))做的測(cè)試
用同一臺(tái)儀器對(duì)電機(jī)電路或者絕緣系統(tǒng)做高壓或者低壓測(cè)試
直觀的和圖形化的用戶界面,以及大尺寸和可戴手套操作的觸摸屏。
USB接口被用于連接打印機(jī)和U盤(pán),可以打印測(cè)試報(bào)告和進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸
線圈模式使得用戶可以快速的測(cè)試很多線圈并且存儲(chǔ)所有的數(shù)據(jù)
完整的測(cè)試工具包
Baker DX能夠發(fā)現(xiàn)工業(yè)電機(jī)絕緣或者電氣系統(tǒng)中的所有的普遍性問(wèn)題。符合標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試范圍包含:
繞組電阻
電感
電容
阻抗
相位角和品質(zhì)因數(shù)
絕緣電阻
介電吸收比(DA)
極化指數(shù)(PI)
步進(jìn)電壓絕緣測(cè)試
直流對(duì)地耐壓測(cè)試
匝間浪涌測(cè)試
PD (局放測(cè)試)
轉(zhuǎn)子偏心測(cè)試 (RIC)
直流電機(jī)測(cè)試
Baker DX的直流電機(jī)測(cè)試是非常快速和的。測(cè)試儀中有電樞測(cè)試模式以及用戶界面和報(bào)告功能。對(duì)間極和勵(lì)磁線圈的測(cè)試結(jié)果是被特別標(biāo)記的。儀器能對(duì)直流電機(jī)電樞做片間和跨間測(cè)試,其測(cè)試結(jié)果能夠被用來(lái)分析直流電機(jī)電樞線圈的短路、開(kāi)路、匝間絕緣薄弱、線圈不平衡以及電樞換向片接片和均壓線的破損或者錯(cuò)接問(wèn)題。Baker DX可以和BAKER ZTX低電抗測(cè)試附件一起使用。ZTX附件能夠?qū)Υ蠖鄶?shù)直流電機(jī)電樞做片間測(cè)試。在測(cè)試阻抗非常低的線圈時(shí),BAKER ZTX可以降低匝間浪涌測(cè)試電壓并有效的升高匝間浪涌電流。Baker DX-15A的特點(diǎn)是將ZTX技術(shù)集成到了儀器當(dāng)中。
局部放電
高壓設(shè)備可能遇到局部靜電放電,這種局部電暈或者擊穿放電可能會(huì)損壞絕緣,進(jìn)而可能導(dǎo)致絕緣逐步退化及電路故障。通過(guò)可選的BAKER DX匝間浪涌局放功能在早期就能發(fā)現(xiàn)這種繞組絕緣故障,局放測(cè)試功能符合IEC 61934標(biāo)準(zhǔn)。局放測(cè)試的波形和數(shù)據(jù)被包含在BAKER DX儀器中和Surveyor DX臺(tái)式機(jī)軟件所生成的報(bào)告中。
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