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短波長光譜分析儀

簡要描述:波長范圍在350nm至1200nm之間, 具備高速的分析能力,應(yīng)用范圍極為廣泛。AQ6373B有助于加快短波長激光器、無源器件、LED以及在生物、材料加工、消費品和電信等應(yīng)用中使用這些器件的裝置的開發(fā)和生產(chǎn)速度。憑借內(nèi)置顏色分析功能和與AQ6315遠(yuǎn)程命令相兼容,AQ6373B可以為AQ6315老用戶提供更高水平的功能、速度和光學(xué)性能。

  • 產(chǎn)品型號:AQ6373B
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2022-04-06
  • 訪  問  量:1144

詳細(xì)介紹

品牌YOKOGAWA/日本橫河應(yīng)用領(lǐng)域電子

一,產(chǎn)品概述


  • 波長范圍:350~1200nm

  • 波長精度:±0.05nm

  • 波長分辨率:0.02~10nm和0.01nm(400~470nm)

  • 安全輸入功率:+20dBm

  • 功率靈敏度:-80dBm

  • 動態(tài)范圍:≥60dB

  • 單模、多模和大芯光纖

  • 內(nèi)置光軸對準(zhǔn)調(diào)節(jié)光源

  • 通過外部參考源進行波長校準(zhǔn)

  • 擁有多種分析功能,包括VIS顏色分析功能。

CN Product AQ6373B 1

應(yīng)用
 

  • 光有源器件(激光二極管/光纖激光器)

  • 光無源器件(濾波器/FBG/特殊光纖)

  • 支持應(yīng)用光子設(shè)備的開發(fā)

  • 工業(yè):激光微加工、激光打標(biāo)機

  • 家用電子設(shè)備:激光投影儀、下一代光盤、LED產(chǎn)品

  • 測量傳感:激光雷達(dá)、干涉儀

  • 電信:塑料光纖(POF)通信

優(yōu)良的光學(xué)性能

高波長分辨率 & 大動態(tài)范圍

*的單色結(jié)構(gòu)實現(xiàn)了高波長分辨率和大動態(tài)范圍。通過單色鏡陡峭的光譜特性,可以有效分離相近的光譜信號并進行的測量。



高靈敏度

可以快速地測量微弱的光信號。

  • 7種靈敏度設(shè)置,可以根據(jù)測量應(yīng)用和測量速度來選擇合適的靈敏度。

  • 大動態(tài)模式,輸入強光信號后,易產(chǎn)生雜散光,通過減少雜散光的影響可以獲得更大的動態(tài)范圍。


脈沖光測量

Peak-Hold功能和外部觸發(fā)模式:

可以測量脈沖光信號的脈沖峰值圖譜。不僅適用于通信系統(tǒng)中光信號傳輸?shù)沫h(huán)路測量,也適用于激光器芯片早期開發(fā)中的低功率測量,可以測量脈沖信號的峰值功率。


自由空間輸入
 


一臺OSA同時處理多模和單模光纖



輸入連接器的插入損耗變化小,提高了測量重復(fù)性。



非物理連接,不會損壞連接的光纖。



支持SM、GI (50/125μm, 62.5/125μm)和大芯光纖可達(dá)800μm。  
CN Product AQ6373B 4

的效率

高速掃描

通過*的單色鏡、更快的電路和降噪技術(shù),無論是來自DFB-LD或DWDM的陡譜信號,還是寬帶光源的低功率信號,AQ6373B都可以實現(xiàn)快速測量。

寬跨度、高精度掃描

在保持高波長分辨率的同時,單次掃描的測量范圍可達(dá)50,001個數(shù)據(jù)采樣點。這比傳統(tǒng)系統(tǒng)的測量更簡單、效率更高,因為傳統(tǒng)系統(tǒng)使用的采樣點數(shù)量少,需要進行多次測量,才能覆蓋整個波長范圍。
 

易于確保精度

環(huán)境條件變化、振東和沖擊對光譜分析儀等光學(xué)精密產(chǎn)品的影響將波及光器件,終導(dǎo)致光學(xué)性能降低。

通過標(biāo)配功能,AQ6373B只要花幾分鐘就可以獲得更高的光學(xué)性能,便于快速開始測量。

光軸對準(zhǔn)調(diào)節(jié)功能

通過內(nèi)置光源自動對準(zhǔn)單色鏡的光路,以確保儀器的高性能。

波長校準(zhǔn)功能

  • 通過外部光源自動校準(zhǔn)光譜分析儀,以確保波長的精度。

  • 內(nèi)置光軸對準(zhǔn)調(diào)節(jié)源。

   提示:

  • 要求使用GI 50/125µm光纖。

  • 波長校準(zhǔn)要求使用外部光源。

  • 有時光軸對準(zhǔn)調(diào)節(jié)功能和波長校準(zhǔn)功能不能確保光學(xué)性能。

  • 還需要進行定期校準(zhǔn)。


二,設(shè)計指標(biāo)

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